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Ombroscopie
L'objet est vu par son contour.
C'est le principe du projecteur de profil. L'image est fortement contrastée.
L'éclairage parallèle conjugué à une optique télécentrique permet d'atteindre
des précisions de 2500 points dans l'étendue de mesure.
Exemple : Mesure de diamètre de sphère de 20
mm avec une incertitude de 10 µm.
Episcopie
L'objet est éclairé par l'avant.
La qualité de l'image est influencée par de nombreux facteurs: état de surface
de l'objet, la forme, la couleur... Un éclairage uniforme solide associé à des
filtrages interférentiels permettent d'obtenir des précisions typiques de 1000
points dans l'étendue de mesure.
Exemple : Mesure de diamètre de sphère de 20
mm avec une incertitude de 0.025 mm.
Télécentrisme
La dimension de l'objet à contrôler
ne varie pas en fonction de la position dans le champ caméra.
Exemple : Mesure d'un objet de dimension a=10
mm placé à d= 100 mm de l'objectif caméra.
- Avec un objectif photo conventionnel. Un éloignement ou un rapprochement
de dd=0.1 mm de l'objet par rapport à la caméra produit une erreur d/d=1/1000.
Et l'objet a est mesuré avec une erreur dans le même rapport d/d, soit avec
une erreur de 0.01 mm.
- Avec un objectif basé sur le principe de télécentrisme, placé à la distance
nominale de mesure, l'erreur de grandissement est compensée.
Parallèle (Eclairage)
L'éclairage parallèle permet d'obtenir
des contours d'objet bien contrastés.
Avec un éclairage conventionnel, la transition entre le noir et le blanc se
fait par un dégradé de gris sur plusieurs pixels. Avec un éclairage parallèle,
la transition entre 20 et 80% du front se fait en moins de 1 pixel.
Cette caractéristique a une incidence directe
sur la répétabilité de la mesure entre clichés successifs.
Triangulation
C'est une technique de mesure de
distance d'un objet basée sur l'observation d'un objet avec un angle de parallaxe.
Généralement, pour des objets relativement mats, l'angle d'incidence de l'éclairage
est normal à la pièce à mesurer, et le récepteur est incliné entre 15 et 45°.
L'incertitude de mesure dépend largement de l'état de surface du matériau à
contrôler.Selon les matériaux, cette technique permet d'atteindre des incertitudes
de 500 à 2000 points dans l'étendue de mesure.